A.斷裂處與最接近的標(biāo)距標(biāo)記的距離不小于原始標(biāo)距的三分之一來測量斷后標(biāo)距
B.斷裂處與最接近的標(biāo)距標(biāo)記的距離小于原始標(biāo)距的三分之一來測量斷后標(biāo)距
C.不管斷裂位置在何處測量斷后標(biāo)距
D.不管斷裂位置在何處測量斷后標(biāo)距，但斷后伸長率大于或等于規(guī)定值

A.1個試件的抗拉強度小于規(guī)定值
B.2個試件的抗拉強度小于規(guī)定值
C.3個試件的抗拉強度小于規(guī)定值
D.2個試件在熱影響區(qū)發(fā)生脆性斷裂，抗拉強度均小于規(guī)定值的1.10倍