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問答題

【簡答題】粉末樣品顆粒過大或過小對德拜花樣影響如何？為什么？板狀多晶體樣品晶粒過大或過小對衍射峰形影響又如何？

答案：粉末樣品顆粒過大會使德拜花樣不連續(xù)，或過小，德拜寬度增大，不利于分析工作的進行。因為當粉末顆粒過大（大于10-3cm）時...

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【簡答題】試總結德拜法衍射花樣的背底來源，并提出一些防止和減少背底的措施。

答案：德拜法衍射花樣的背底來源是入射波的非單色光、進入試樣后出生的非相干散射、空氣對X射線的散射、溫度波動引起的熱散射等。采取...

【簡答題】試簡要總結由分析簡單點陣到復雜點陣衍射強度的整個思路和要點。

答案：在進行晶體結構分析時，重要的是把握兩類信息，第一類是衍射方向，即θ角，它在λ一定的情況下取決于...