A.上頜第二磨牙 B.下頜第二磨牙 C.上頜第一磨牙 D.下頜第一磨牙 E.上頜前磨牙
A.可探及分叉外形,X線片顯示無異常表現(xiàn) B.只有一側可探入分叉區(qū),X線片示骨密度略降低 C.一側或雙側可探入分叉區(qū),但不能穿通,X線片示骨密度略降低 D.探針能通過分叉區(qū),但有牙齦覆蓋,X線片示骨密度降低區(qū) E.探針能通過分叉區(qū),且無牙齦覆蓋,X線片示骨密度降低區(qū)
A.齦溝探診可達3mm或更多 B.加深的齦溝稱為齦袋 C.齦袋的上皮附著水平位于釉牙骨質(zhì)界以下的根面上 D.牙周探診深度常大于組織學上的齦溝深度 E.齦袋的形成是因牙齦腫脹或增生所致