A.試劑層 B.分布層 C.指示劑層 D.支持層 E.參比層
A.免疫芯片 B.細(xì)胞芯片 C.組織芯片 D.DNA芯片 E.芯片實(shí)驗(yàn)室
A.孵育器溫度超出性能規(guī)格范圍 B.硬件錯(cuò)誤或由操作者導(dǎo)致的錯(cuò)誤 C.樣品量不足 D.高活性樣品導(dǎo)致不規(guī)則的動(dòng)力學(xué)反應(yīng)過程 E.儀器檢測(cè)到無效的干片電壓或光度讀數(shù)