A、集成測(cè)試 B、單元測(cè)試 C、確認(rèn)測(cè)試 D、系統(tǒng)測(cè)試
A、偶然內(nèi)聚 B、過(guò)程內(nèi)聚 C、功能內(nèi)聚 D、邏輯內(nèi)聚
A、分類 B、聚集 C、分類和聚集 D、實(shí)體和聯(lián)系