A.均整器
B.X射線靶
C.初級準(zhǔn)直器
D.二級準(zhǔn)直器
E.監(jiān)測電離室

A.前者可考慮計算點位置不均勻組織的厚度，而后者可考慮計算點所在平面內(nèi)不均勻組織的實際形狀
B.前者可考慮計算點所在平面內(nèi)不均勻組織的實際形狀，而后者可考慮計算點所位置不均勻組織的厚度
C.前者可考慮計算點所在平面及相鄰層面內(nèi)不均勻組織的實際形狀，而后者可考慮計算點位置不均勻組織的厚度
D.前者可考慮計算點所在平面內(nèi)不均勻組織的實際形狀，而后者可考慮計算點所在平面及相鄰層面內(nèi)不均勻組織的實際形狀
E.前者可考慮計算點所在平面及相鄰層面內(nèi)不均勻組織的實際形狀，而后者可考慮計算點所在平面內(nèi)不均勻組織的實際形狀