A.一般可分為“子系統(tǒng)測(cè)試”和“系統(tǒng)測(cè)試”兩個(gè)步驟
B.“子系統(tǒng)”是指部分軟硬件設(shè)備的集合,在系統(tǒng)中能區(qū)分相對(duì)獨(dú)立的功能與性能
C.系統(tǒng)調(diào)(測(cè))試宜在全部或者主要子系統(tǒng)調(diào)(測(cè))試符合要求后進(jìn)行
D.一般采用“由上到下由小到大”的逐漸擴(kuò)展進(jìn)行系統(tǒng)調(diào)(測(cè))試