A.準(zhǔn)備重新分析新的質(zhì)量控制物標(biāo)本 B.檢查測(cè)定方法本身 C.更換試劑 D.重新定標(biāo) E.聯(lián)系廠家
A.均數(shù)μ和標(biāo)準(zhǔn)差σ B.標(biāo)準(zhǔn)差和標(biāo)準(zhǔn)誤 C.標(biāo)準(zhǔn)差和方差 D.標(biāo)準(zhǔn)差和變異系數(shù) E.平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)誤
A.在Levey-Jennings方法基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的 B.通過(guò)單值質(zhì)量控制圖進(jìn)行簡(jiǎn)單的數(shù)據(jù)分析和顯示 C.具有高的假失控或假報(bào)警概率 D.當(dāng)失控時(shí),常能確定產(chǎn)生失控的分析誤差的類型 E.可幫助確定失控的原因以尋找解決問題的辦法